Czujnik 3D do kontroli błyszczących powierzchni
Charakterystyka:
- Kontrola powierzchni odbijających światło i błyszczących
- Identyfikacja najdrobniejszych wad i odchyleń
- Stały i powtarzalny wskaźnik identyfikacji
- Wysoka precyzja pomiarów, odchylenie płaskości w zakresie submikronowym
- Duże pole pomiarowe 170×160 mm
Czujnik deflektometryczny do pomiarów 3D błyszczących powierzchni
ReflectCONTROL RC130 jest przeznaczony do pomiarów kształtu błyszczących obiektów. Czujnik ten wyświetla wzór w paski, który jest odbijany przez powierzchnię obiektu pomiarowego do kamer czujnika. Czujnik zapewnia obraz 3D powierzchni, który pozwala na określenie topologii elementów (np. płaskości, ugięcia, krzywizny). Model RCS130 jest specjalnie zoptymalizowany do zadań pomiarowych i inspekcyjnych, np. na liniach produkcyjnych. Co więcej, czujnik posiada interfejs GigE Vision, który oferuje dane zgodne z GenICam.
Kontrola powierzchni błyszczących elementów
ReflectCONTROL RCS110-245 ze zintegrowanym kontrolerem jest przeznaczony do pomiarów stacjonarnych lub integracji z maszynami. Ten kompaktowy czujnik wykrywa anomalie na błyszczących powierzchniach, które są przetwarzane i wyświetlane przez oprogramowanie jako obraz współczynnika odbicia i krzywizny. GigE Vision umożliwia przesyłanie obrazów powierzchni do szerokiej gamy pakietów oprogramowania do przetwarzania obrazu w celu dalszej analizy.
Oprogramowanie 3DInspect do zadań pomiarowych i inspekcji 3D
Oprogramowanie 3DInspect to potężne narzędzie do konfiguracji parametrów czujników i zadań pomiarowych w przemyśle. Oprogramowanie to przesyła dane pomiarowe z czujnika przez Ethernet i dostarcza dane w formie trójwymiarowej. Te dane 3D są dalej przetwarzane, analizowane i oceniane za pomocą programów pomiarowych 3DInspect na komputerze PC oraz, w razie potrzeby, rejestrowane i przesyłane przez Ethernet do jednostki sterującej. W razie potrzeby dane 3D można zapisać za pomocą oprogramowania. Co więcej, ustawienie i konfiguracja czujnika jest możliwa za pośrednictwem oprogramowania.
Integracja oprogramowania poprzez 3D-SDK firmy Micro-Epsilon
reflectCONTROL jest wyposażony w łatwy do zintegrowania SDK (Software Development Kit). SDK opiera się na standardach branżowych GigE Vision i GenICam, w tym na następujących blokach funkcyjnych:
- Konfiguracja sieci i podłączanie czujników
- Kompleksowa kontrola czujników
- Kontrola transferu obrazu
- Zarządzanie zdefiniowanymi przez użytkownika zestawami parametrów
- Przykładowe programy C++ i dokumentacja
Dostęp do czujnika za pośrednictwem GigE Vision jest również możliwy bez SDK, jeśli posiadasz klienta GenICam.