Interferometr światła białego do stabilnego pomiaru grubości z submikronową dokładnością
Nowy interferometr światła białego IMS5400-TH otwiera nowe perspektywy w przemysłowych pomiarach grubości. Sterownik oferuje inteligentną funkcję oceny i umożliwia pomiar grubości przezroczystych obiektów z najwyższą precyzją.
Charakterystyka
Stabilny pomiar grubości przy różnych odległościach pomiarowych
Interferometr światła białego IMS5400-TH służy do bardzo dokładnych pomiarów grubości ze stosunkowo dużej odległości. Decydującą zaletą jest tutaj pomiar niezależny od odległości, w którym wartość grubości z dokładnością do nanometra jest osiągana nawet w przypadku poruszających się obiektów. Duży zakres pomiaru grubości umożliwia pomiar cienkich warstw, płaskiego szkła i folii. Ponieważ interferometr światła białego współpracuje z diodą SLED w zakresie bliskiej podczerwieni, możliwy jest również pomiar grubości szkła z powłoką antyrefleksyjną.
Pomiar grubości wielu warstw
W wariancie z kontrolerem wielopikselowym, kilka pików sygnału może być ocenianych jednocześnie. Umożliwia to wielowarstwowy pomiar grubości przezroczystych obiektów i szkła laminowanego. Kontroler podaje wartości grubości o najwyższej stabilności, niezależnie od ich położenia.
Idealny do środowisk przemysłowych
Solidne czujniki i kontroler w metalowej obudowie sprawiają, że system idealnie nadaje się do integracji z liniami produkcyjnymi. Kontroler może być zainstalowany w szafie sterowniczej poprzez montaż na szynie DIN i zapewnia bardzo stabilne wyniki pomiarów dzięki aktywnej kompensacji temperatury i pasywnemu chłodzeniu. Te kompaktowe czujniki zajmują bardzo mało miejsca i są wyposażone w bardzo elastyczne kable światłowodowe. Przewody o długości do 10 m pozwalają na przestrzenną separację czujnika i sterownika. Czujnik można łatwo i szybko ustawić za pomocą zintegrowanego lasera pilotującego. Uruchamianie i parametryzacja są wygodnie wykonywane za pośrednictwem interfejsu internetowego i nie wymagają instalacji oprogramowania.
Model | Zakres pomiarowy / Początek zakresu pomiarowego | Liniowość | Liczba mierzalnych warstw | Obszary zastosowań |
---|---|---|---|---|
IMS5400-TH45 | 0,035 … 1,5 mm (dla BK7, n=1,5) / ok. 41,5 mm z zakresem roboczym ok. 7 mm | ±100 nm | 1 warstwa | Przemysłowy pomiar grubości na linii produkcyjnej np. w produkcji szkła płaskiego jednowarstwowego |
IMS5400-TH45/VAC | 0,035 … 1,5 mm (dla BK7, n=1,5) / ok. 41,5 mm z zakresem roboczym ok. 7 mm | ±100 nm | 1 warstwa | Pomiary grubości inline w pomieszczeniach czystych i próżni, np. w produkcji wyświetlaczy do pomiaru szczeliny w próżni |
IMS5400MP-TH45 | 0,035 … 1,5 mm (dla BK7, n=1,5) / ok. 41,5 mm z zakresem roboczym ok. 7 mm | ±100 nm | Do 5 warstw | Przemysłowy pomiar wielowarstwowy w linii produkcyjnej np. w produkcji wielowarstwowego szkła płaskiego |
IMS5400MP-TH45/VAC | 0,035 … 1,5 mm (dla BK7, n=1,5) / ok. 68 mm z zakresem roboczym ok. 4,2 mm | ±100 nm | Do 5 warstw | Pomiary wielowarstwowe inline w pomieszczeniach czystych, np. w produkcji wyświetlaczy do pomiarów wielowarstwowych w próżni |
IMS5400-TH70 | 0,035 … 1,5 mm (dla BK7, n=1,5) / ok. 68 mm z zakresem roboczym ok. 4,2 mm | ±200 nm | 1 warstwa | Przemysłowy pomiar grubości na linii produkcyjnej np. w produkcji folii jednowarstwowych |
IMS5400MP-TH70 | 0,035 … 1,5 mm (dla BK7, n=1,5) / ok. 68 mm z zakresem roboczym ok. 4,2 mm | ±200 nm | Do 5 warstw | Przemysłowy pomiar wielowarstwowy w linii produkcyjnej np. w produkcji folii wielowarstwowych |
Nowoczesne interfejsy do integracji z maszynami i systemami
Sterownik oferuje zintegrowane interfejsy, takie jak Ethernet, EtherCAT i RS422, a także dodatkowe połączenia enkodera, wyjścia analogowe, wejścia synchronizacji i cyfrowe wejścia/wyjścia. W przypadku korzystania z modułów interfejsu Micro-Epsilon dostępne są interfejsy PROFINET i EthernetIP. Pozwala to na integrację interferometru ze wszystkimi systemami sterowania i programami produkcyjnymi.